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礦石品位含量分析儀 礦石成分檢測(cè)機(jī)器設(shè)備是對(duì)礦石中含有的元素及其含量分析的儀器,即時(shí)利用X射線輻射產(chǎn)生熒光來分析的一種儀器,在X射線熒光分析礦石中的元素及含量中。 檢測(cè)礦石儀器設(shè)備主要適用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法結(jié)合基本參數(shù)法和單獨(dú)經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法,針對(duì)不同的礦石種類,利用基本參數(shù)法結(jié)合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法測(cè)試礦石成分中的元素含量。
15923-1995 鎳礦石化學(xué)分析方法檢測(cè)儀 礦石化學(xué)元素成分檢測(cè)設(shè)備主要有: X射線能量色散譜儀(EDS),X射線波長(zhǎng)色散譜儀(WDS), X射線光電子能譜儀(XPS),高頻電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP-AES),原子吸收光譜儀(AAS),X射線熒光光譜儀(XRF),碳硫儀,氮氧儀,分光光度計(jì)等高精密儀器設(shè)備。 實(shí)際測(cè)試礦石過程中使用最多的是XRF,ICP和AAS這三款。
金銀礦銅鉛鋅礦釩礦鎢鉬錫礦化學(xué)成分檢測(cè)儀 X射線熒光光譜儀(XRF):只能對(duì)礦石成分進(jìn)行定性分析,定量分析的話,偏差很大,優(yōu)點(diǎn)在于攜帶方便,測(cè)試方便,對(duì)于測(cè)試數(shù)據(jù)要求不高的情況下可以考慮購買使用;高頻電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP-AES)和原子吸收光譜儀(AAS)這兩款測(cè)試設(shè)備都是實(shí)驗(yàn)室使用的高精密設(shè)備,測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定,測(cè)試數(shù)據(jù)精度高,缺點(diǎn)在于它們只能放在實(shí)驗(yàn)室中使用.
紅土鎳礦中的鎳化學(xué)元素成分含量檢測(cè)儀 礦石化學(xué)元素成分檢測(cè)設(shè)備主要有: X射線能量色散譜儀(EDS),X射線波長(zhǎng)色散譜儀(WDS), X射線光電子能譜儀(XPS),高頻電感耦合等離子發(fā)射光譜儀(ICP-AES),原子吸收光譜儀(AAS),X射線熒光光譜儀(XRF),碳硫儀,氮氧儀,分光光度計(jì)等高精密儀器設(shè)備。
DZT 0396.2-2022 鎳礦石化學(xué)分析方法儀器 礦石一般可以分為: 鐵礦(赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等) 銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等) 鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等) 鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等) 鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等) 鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等) 鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等) 鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等) 其它礦類
金礦尾礦的元素成分含量檢測(cè)儀 工作環(huán)境要求 2.1、不要將儀器直接安裝在窗戶邊或者門邊,避免對(duì)流、灰塵、腐蝕性氣體及振動(dòng)。 2.2、請(qǐng)遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾。 2.3、環(huán)境溫度:20~25℃。 2.4、工作濕度:≤ 70%。 2.5、儀器應(yīng)放置在平穩(wěn)的工作臺(tái)上,無振動(dòng),儀器上方應(yīng)有排風(fēng)系統(tǒng),儀器附近應(yīng)無強(qiáng)光直射及強(qiáng)烈電磁場(chǎng)干擾,環(huán)境中應(yīng)無強(qiáng)烈腐蝕性氣體。
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